使用AFM-IR探测具有纳米级分辨率的金属氧化物/聚合物分子混合界面

比利时布鲁塞尔大学的Herman Terryn团队首次使用基于原子力显微镜的红外光谱（AFM-IR）来探测金属氧化物/聚合物界面处的化学相互作用。AFM-IR是一种新颖的技术，可提供具有低于光学衍射极限的空间分辨率的化学光谱。实验选择在氧化铝上的聚丙烯酸（PAA）作为模型系统，使用了两种不同的方法：薄层方法和横截面方法，证实了AFM-IR观察掩埋界面的有效性，为探测工业实际应用的厚涂层-金属基材界面提供了思路。

原文DOI: 10.1021/acs.jpcc.9b04522

（代威明）