赵金保教授课题组

研究前沿

快速充电状态下NCM622材料二级颗粒介观尺度下形貌缺陷的演变

 


快速充电状态下NCM622材料二级颗粒介观尺度下形貌缺陷的演变


形貌缺陷会导致长期以及剧烈的电池性能突变。这种由结构各向异性、化学和充电态的不均匀性诱发的机械应力会通过形成裂纹的方式释放,同时会逐渐破坏离子电子的扩散通道,创造出新的界面副反应。当前对于机械化学相互作用的理解一直停留在描述水平上,因此对其进行量化或建模是十分重要的。Liu等系统地研究了在快速充电状态下NCM622材料二级颗粒介观尺度下形貌缺陷的演变。他们借助先进的同步辐射X射线断层扫描技术,无损地穿透二级颗粒的内部体积,并量化了裂纹形成的形貌结果,如孔隙率和内部表面积等,并通过构建3D数值模型模拟计算了裂纹形成、电解液渗透导致的离子电子扩散绕行及局部离子电子电导率的不匹配现象。相关成果发表在Nano Energy。



 https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2211285518306955


(李际洋)


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